LMW

 

Metrologia

 

 kierunek transport

studia stacjonarne I-go stopnia

semestr zimowy 2018/2019

 

11T

 

  Tygodnie nieparzyste:   Tygodnie parzyste:
  11T L2 – wtorek 14:30–16:00   11T L7 – poniedziałek 14:30-16:00
  11T L4 – środa 14:30–16:00   11T L8 – poniedziałek 14:30-16:00
  11T L6 – czwartek 11:00–12:30   11T L1 – wtorek 14:30-16:00
        11T L3 – środa 14:30-16:00
        11T L5 - czwartek 11:00-12:30

 

11T Data
L2 16.X 30.X 13.XI 27.XI 11.XII 8.I 22.I
L4 17.X 31.X 14.XI 28.XI 12.XII 9.I 23.I
L6 4.X 18.X 15.XI 29.XI 13.XII 10.I 24.I
L7 8.X 22.X 5.XI 19.XI 3.XII 17.XII 14.I
L8 8.X 22.X 5.XI 19.XI 3.XII 17.XII 14.I
L1 9.X 23.X 6.XI 20.XI 4.XII 18.XII 15.I
L3 10.X 24.X 7.XI 21.XI 5.XII 19.XII 16.I
L5 11.X 25.X 8.XI 22.XI 6.XII 20.XII 3.I
Zespół Nr ćwiczenia
I 1 3 2 4 6 5 ZAL
II 3 1 4 2 5 6 ZAL
III 6 5 1 3 2 4 ZAL
IV 5 6 3 1 4 2 ZAL

 

 

LEGENDA:

1. Identyfikacja typu szyny kolejowej na podstawie przeprowadzonych pomiarów.

2. Pomiary wybranych parametrów koła zębatego.

3. Statystyczna analiza wyników pomiarów.

4. Wykorzystanie długościomierza do wykonywania pomiarów i nadzorowania narzędzi pomiarowych.

5. Pomiary przy użyciu mikroskopów pomiarowych.

6. Pomiary mikro- i makrogeometrii powierzchni.

ZAL   -   Zaliczanie ćwiczeń laboratoryjnych i odrabianie ćwiczeń zaległych.

 

 

 

METROLOGIA

kierunek transport

studia

stacjonarne oraz niestacjonarne

I-go stopnia

 

zakres wymaganych wiadomości

do ćwiczeń laboratoryjnych

 

 

Ćw. 1.  Identyfikacja typu szyny kolejowej na podstawie przeprowadzonych pomiarów.

 

      Zakres laboratorium:

- Identyfikacja typu szyny kolejowej na podstawie przeprowadzonych pomiarów,

- dobór przyrządów pomiarowych do określonych zadań pomiarowych.

 

Zagadnienia do opracowania:

- kryteria racjonalnego doboru przyrządów pomiarowych,

- rodzaje wymiarów wraz z rysunkami (wymiar zewnętrzny, wewnętrzny, pośredni i mieszany).

 

            Zakres wymaganych wiadomości:

- klasyfikacja przyrządów pomiarowych,

- charakterystyka przyrządów suwmiarkowych (podział, dokładności, noniusze itp),

- charakterystyka przyrządów mikrometrycznych (podział, dokładności, budowa itp),

- tolerancja wymiaru i jej oznaczenia w dokumentacji technicznej.

 

Ćw. 2 Pomiary wybranych parametrów koła zębatego

 

      Zakres laboratorium:

- Pomiary wybranych parametrów dostarczonego koła zębatego.

 

Zagadnienia do opracowania:

- podstawowe parametry koła zębatego (rysunek),

- podział kół zębatych.

 

            Zakres wymaganych wiadomości:

- pomiary parametrów koła zębatego: wyznaczanie modułu, podziałek, grubości i wysokości zęba,

- ewolwenta koła,

- suwmiarka modułowa.

 

Ćw. 3 Statystyczna analiza wyników pomiarów

 

Zakres laboratorium:

- wyznaczanie podstawowych parametrów statystycznych,

- szacowanie niepewności pomiarów bezpośrednich metodą A.

 

Zagadnienia do opracowania:

- podstawowe parametry statystyczne: średnia, mediana, moda, rozstęp, wariancja, odchylenie standardowe,

- definicje podstawowych pojęć[1] : niepewność pomiaru, niepewność standardowa pomiaru, niepewność rozszerzona pomiaru, metoda typu A obliczania niepewności.

 

Zakres wymaganych wiadomości:

- wyznaczanie niepewności pomiarów wg zaleceń ISO,

- błąd pomiaru, błędy systematyczne, przypadkowe i nadmierne,

- histogram,

- rozkład normalny Gaussa,

- przyrządy czujnikowe – podział czujników i właściwości metrologiczne.

 

Ćw. 4.  Wykorzystanie długościomierza do wykonywania pomiarów i nadzorowania narzędzi pomiarowych

 

      Zakres laboratorium:

- zapoznanie z obsługą długościomierza,

- pomiary błędów mikrometru przy pomocy długościomierza poziomego.

 

Zagadnienia do opracowania:

- schemat budowy długościomierza poziomego i pionowego,

- postulat Abbego.

 

            Zakres wymaganych wiadomości:

- parametry podlegające sprawdzaniu w mikrometrach,

- wzorcowanie (kalibracja), sprawdzenie, spójność pomiarowa, błędy graniczne dopuszczalne,

- błędy 1-ego i 2-ego rzędu,

- metody pomiarowe.

 

 

Ćw. 5 Pomiary przy użyciu mikroskopów pomiarowych

 

      Zakres laboratorium:

- pomiary wielkości liniowych i kątowych przy pomocy mikroskopu pomiarowego,

- zapoznanie z współrzędnościową technika pomiarową (WTP).

 

Zagadnienia do opracowania:

- budowa mikroskopu pomiarowego,

- wyposażenie mikroskopów pomiarowych,

- istota współrzędnościowej techniki pomiarowej,

 

            Zakres wymaganych wiadomości:

- rodzaje głowic stosowane w mikroskopach,

- wady i zalety metod optycznych pomiarów wielkości geometrycznych,

- wady układów optycznych (aberracja sferyczna i chromatyczna, dystorsja, astygmatyzm),

- odmiany konstrukcyjne współrzędnościowych maszyny pomiarowych (WMP),

            - budowa współrzędnościowych maszyny pomiarowych (WMP),

            - głowice i sondy pomiarowe stosowane w WMP,

 

 

Ćw. 6.  Pomiary mikro- i makrogeometrii powierzchni

 

Zakres laboratorium:

- pomiary parametrów chropowatości powierzchni,

- pomiary odchyłek kształtu.

 

Zagadnienia do opracowania:

- podstawowe parametry chropowatości powierzchni,

- elementy przylegające i elementy średnie,

 

            Zakres wymaganych wiadomości:

            - pojęcie chropowatości i falistości powierzchni,

            - podstawowe pojęcia do definicji parametrów profilu chropowatości i falistości,

- krzywa nośności profilu chropowatości,

- oznaczenia chropowatości w dokumentacji technicznej,

- metody pomiaru odchyłki okrągłości,

- klasyfikacja i symbole tolerancji geometrycznych,

- tolerancje geometryczne - interpretacja i oznaczenia w dokumentacji.

 

 

 

Literatura:

 

1.     Jakubiec W., Malinowski J.: „Metrologia wielkości geometrycznych”, WNT 2007.

2.     Adamczak S., Makieła W.: „Metrologia w budowie maszyn. Zadania z rozwiązaniami”,  WNT 2007.

3.     Adamczak S.: „Pomiary geometryczne powierzchni zarysy kształtu falistości i chropowatości”, WNT 2008.

4.     Adamczak S, Makieła W.: „Podstawy metrologii i inżynierii jakości dla mechaników”, WNT W-wa, 2010.

5.     Ratajczyk E., A. Woźniak Współrzędnościowe systemy pomiarowe, Warszawa, 2016, OWPW

6.     Humienny Z. „Specyfikacje geometrii wyrobów (GPS)”, WNT W-wa 2004.

 

 



[1] Definicje na podstawie „Międzynarodowego Słownika Podstawowych i Ogólnych Terminów Metrologii” lub dokumentu EA-4/02 M „Wyrażanie niepewności pomiaru przy wzorcowaniu”, załącznik B Słownik. (dokument do pobrania ze strony: www.pca.gov.pl)

 

 

Metrologia

 

 kierunek transport

studia stacjonarne I-go stopnia

semestr zimowy 2018/2019

 

12T

  Tygodnie nieparzyste:   Tygodnie parzyste:  
  12T L4 – środa 14:30-16:00 12T L6 – poniedziałek 07:30-09:00
  12T L3 – środa 16:15-17:45 12T L5 – środa 14:30-16:00
  12T L1 – czwartek 07:30-09:00 12T L2 – czwartek 07:30-09:00

 

12T Data
L4 17.X 31.X 14.XI 28.XI 12.XII 9.I 23.I
L3 17.X 31.X 14.XI 28.XI 12.XII 9.I 23.I
L1 4.X 18.X 15.XI 29.XI 13.XII 10.I 24.I
L6 8.X 22.X 5.XI 19.XI 3.XII 17.XII 14.I
L5 10.X 24.X 7.XI 21.XI 5.XII 19.XII 16.I
L2 11.X 25.X 8.XI 22.XI 6.XII 20.XII 3.I
Zespół Nr ćwiczenia
I 1 3 2 4 6 5 ZAL
II 3 1 4 2 5 6 ZAL
III 6 5 1 3 2 4 ZAL
IV 5 6 3 1 4 2 ZAL

 

LEGENDA:

1. Dobór przyrządów pomiarowych.

2. Wykorzystanie wysokościomierza cyfrowego do pomiarów 1D i 2D.

3. Statystyczna analiza wyników pomiarów.

4. Pomiary metodą pośrednią.

5. Pomiary techniką współrzędnościową przy użyciu mikroskopów pomiarowych.

6. Pomiary mikro- i makrogeometrii powierzchni.

ZAL   -   Zaliczanie ćwiczeń laboratoryjnych i odrabianie ćwiczeń zaległych.

 

 

 

METROLOGIA

kierunek transport

studia

stacjonarne oraz niestacjonarne

I-go stopnia

 

zakres wymaganych wiadomości

do ćwiczeń laboratoryjnych

 

 

Ćw. 1.  Dobór przyrządów pomiarowych

 

      Zakres laboratorium:

- dobór przyrządów pomiarowych do określonych zadań pomiarowych.

- opracowanie dokumentacji technicznej na podstawie wykonanych pomiarów.

 

Zagadnienia do opracowania:

- kryteria racjonalnego doboru przyrządów pomiarowych,

- rodzaje wymiarów wraz z rysunkami (wymiar zewnętrzny, wewnętrzny, pośredni i mieszany).

 

            Zakres wymaganych wiadomości:

- klasyfikacja przyrządów pomiarowych,

- charakterystyka przyrządów suwmiarkowych (podział, dokładności, noniusze itp),

- charakterystyka przyrządów mikrometrycznych (podział, dokładności, budowa itp),

- tolerancja wymiaru i jej oznaczenia w dokumentacji technicznej.

 

Ćw. 2 Wykorzystanie wysokościomierza cyfrowego do pomiarów 1D i 2D

 

      Zakres laboratorium:

- Zastosowanie wysokościomierza cyfrowego do zadań pomiarowych.

 

Zagadnienia do opracowania:

- opis, budowa i zastosowania wysokościomierza cyfrowego,

- klasyfikacja wzorców miar długości i kata

 

            Zakres wymaganych wiadomości:

- wzorce inkrementalne i kodowe (uproszczony schemat układu pomiarowego z wzorcem inkrementalnym),

- zerowanie wysokościomierza,

- kalibracja końcówki pomiarowej wysokościomierza,

- korekcja promieniowa końcówki pomiarowej,

- sposób postępowania przy realizacji zadań pomiarowych 1D i 2D.

- definicja metra, postulat Abbego, błędy I-go i II-go rzędu.

 

Ćw. 3 Statystyczna analiza wyników pomiarów

 

Zakres laboratorium:

- wyznaczanie podstawowych parametrów statystycznych,

- szacowanie niepewności pomiarów bezpośrednich metodą A.

 

Zagadnienia do opracowania:

- podstawowe parametry statystyczne: średnia, mediana, moda, rozstęp, wariancja, odchylenie standardowe,

- definicje podstawowych pojęć[1] : niepewność pomiaru, niepewność standardowa pomiaru, niepewność rozszerzona pomiaru, metoda typu A obliczania niepewności.

 

Zakres wymaganych wiadomości:

- wyznaczanie niepewności pomiarów wg zaleceń ISO,

- błąd pomiaru, błędy systematyczne, przypadkowe i nadmierne,

- histogram,

- rozkład normalny Gaussa,

- przyrządy czujnikowe – podział czujników i właściwości metrologiczne.

 

Ćw. 4.  Pomiary metodą pośrednią

 

      Zakres laboratorium:

- pomiary pośrednie zbieżności stożków i klinów z wykorzystaniem uniwersalnych przyrządów pomiarowych,

- niepewność pomiaru w pomiarach pośrednich.

 

Zagadnienia do opracowania:

- pomiar stożka zewnętrznego przy użyciu wałeczków wzorcowych,

- pomiar stożka wewnętrznego przy użyciu kul wzorcowych.

 

            Zakres wymaganych wiadomości:

- pomiar pochylenia klina,

- metody pomiarowe,

- błędy przypadkowe w pomiarach pośrednich.

 

 

Ćw. 5 Pomiary techniką współrzędnościową przy użyciu mikroskopów pomiarowych

 

      Zakres laboratorium:

- pomiary wielkości liniowych i kątowych przy pomocy mikroskopu pomiarowego,

- zapoznanie z współrzędnościową technika pomiarową (WTP).

 

Zagadnienia do opracowania:

- budowa mikroskopu pomiarowego,

- wyposażenie mikroskopów pomiarowych,

- istota współrzędnościowej techniki pomiarowej,

 

            Zakres wymaganych wiadomości:

- rodzaje głowic stosowane w mikroskopach,

- wady i zalety metod optycznych pomiarów wielkości geometrycznych,

- wady układów optycznych (aberracja sferyczna i chromatyczna, dystorsja, astygmatyzm),

- odmiany konstrukcyjne współrzędnościowych maszyny pomiarowych (WMP),

            - budowa współrzędnościowych maszyny pomiarowych (WMP),

            - głowice i sondy pomiarowe stosowane w WMP,

 

 

Ćw. 6.  Pomiary mikro- i makrogeometrii powierzchni

 

Zakres laboratorium:

- pomiary parametrów chropowatości powierzchni,

- pomiary odchyłek  kształtu.

 

Zagadnienia do opracowania:

- podstawowe parametry chropowatości powierzchni,

- elementy przylegające i elementy średnie,

 

            Zakres wymaganych wiadomości:

            - pojęcie chropowatości i falistości powierzchni,

            - podstawowe pojęcia do definicji parametrów profilu chropowatości i falistości,

- krzywa nośności profilu chropowatości,

- oznaczenia chropowatości w dokumentacji technicznej,

- metody pomiaru odchyłki okrągłości,

- klasyfikacja i symbole tolerancji geometrycznych,

- tolerancje geometryczne - interpretacja i oznaczenia w dokumentacji.

 

 

 

Literatura:

 

1.     Jakubiec W., Malinowski J.: „Metrologia wielkości geometrycznych”, WNT 2007.

2.     Adamczak S., Makieła W.: „Metrologia w budowie maszyn. Zadania z rozwiązaniami”,  WNT 2007.

3.     Adamczak S.: „Pomiary geometryczne powierzchni zarysy kształtu falistości i chropowatości”, WNT 2008.

4.     Adamczak S, Makieła W.: „Podstawy metrologii i inżynierii jakości dla mechaników”, WNT W-wa, 2010.

5.     Ratajczyk E., A. Woźniak Współrzędnościowe systemy pomiarowe, Warszawa, 2016, OWPW

6.     Humienny Z. „Specyfikacje geometrii wyrobów (GPS)”, WNT W-wa 2004.

 

 



[1] Definicje na podstawie „Międzynarodowego Słownika Podstawowych i Ogólnych Terminów Metrologii” lub dokumentu EA-4/02 M „Wyrażanie niepewności pomiaru przy wzorcowaniu”, załącznik B Słownik. (dokument do pobrania ze strony: www.pca.gov.pl)